shimadzu粉末測量粒度分布分析儀測量低濃度離子色譜儀

shimadzu粉末測量粒度分布分析儀測量低濃度SALD-7500的介紹
對納米粒子的實(shí)際應(yīng)用最重要的分散/聚集特性的評估，可以在大范圍內(nèi)實(shí)時評估。■強(qiáng)烈需要測量低濃度納米粒子的粒徑分布和

產(chǎn)品型號：SALD-7500
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2023-04-13
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shimadzu粉末測量粒度分布分析儀測量低濃度SALD-7500的介紹

對納米粒子的實(shí)際應(yīng)用最重要的分散/聚集特性的評估，可以在大范圍內(nèi)實(shí)時評估。■強(qiáng)烈需要測量低濃度納米粒子的粒徑分布和高度準(zhǔn)確且具有高靈敏度的光吸收納米粒子。在納米范圍內(nèi)實(shí)現(xiàn)了比傳統(tǒng)系統(tǒng)高約 10 倍的靈敏度，并且可以測量小于 1ppm 的低濃度樣品。現(xiàn)在可以測量以前被放棄的低濃度納米粒子。
■單一測量裝置即可覆蓋微小氣泡（100nm～60μm的微小氣泡），實(shí)時追蹤氣泡直徑的變化。
■具有專用選項(xiàng)的生物制藥聚集評價系統(tǒng)也可用于評價生物制藥中所含的亞可見聚集體。?使用單一光源、單一光學(xué)系統(tǒng)和單一測量原理，可以連續(xù)測量 7 nm 至 800 μm 測量范圍內(nèi)的粒子變化而不會中斷。
?一次粒子、凝集物、異物可以用一臺裝置測定，因此可以根據(jù)分散條件確認(rèn)廣泛的凝集特性。一種測量原理、一種光學(xué)系統(tǒng)、一種光源覆蓋待測粒徑范圍，實(shí)現(xiàn)全無縫的單一寬量程。不會出現(xiàn)由于多個光學(xué)系統(tǒng)的組合而導(dǎo)致的數(shù)據(jù)不連續(xù)，并且單一標(biāo)準(zhǔn)始終可以在整個測量范圍內(nèi)測量準(zhǔn)確的粒度分布。
此外，通過采用基于先進(jìn)散射光強(qiáng)度跟蹤技術(shù)的SLIT光學(xué)系統(tǒng)，現(xiàn)在可以在單個檢測表面上連續(xù)檢測前向散射光，范圍可達(dá)60度，克服了傳統(tǒng)智慧。這使得可以在細(xì)顆粒區(qū)域中獲得高分辨率。

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