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日本sanko 電磁膜厚儀 紫外光譜儀SWT-NEO-F特征1.寬測量范圍：0 至 2.5mm2.通過調(diào)零和標(biāo)準(zhǔn)調(diào)整可立即進行測量
產(chǎn)品型號：SWT-NEO-F廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2024-08-16訪 問 量：540
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| 品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地 | 進口 |
|---|
日本sanko 電磁膜厚儀 紫外光譜儀SWT-NEO-F
特征
1.寬測量范圍：0 至 2.5mm
2.通過調(diào)零和標(biāo)準(zhǔn)調(diào)整可立即進行測量
規(guī)格
測量范圍 0～2.50mm
顯示方式 LCD數(shù)字、顯示保持
顯示分辨率 1μm：0-999μm 0.1μm：0-400μm 0.5μm：400-500μm 0.01mm：1.00-2.50mm
測量精度 均勻表面上 0 ～ 100 μm：±1 μm 或示值的 ±2% 101 μm ～ 2.50 mm：±2% 以內(nèi)
工作溫度 0～40℃（無凝結(jié)）
重量 約270克（含電池）
配件 標(biāo)準(zhǔn)厚板、測試調(diào)零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書
日本sanko 電磁膜厚儀 紫外光譜儀SWT-NEO-F
特征
1.寬測量范圍：0 至 2.5mm
2.通過調(diào)零和標(biāo)準(zhǔn)調(diào)整可立即進行測量
規(guī)格
測量范圍 0～2.50mm
顯示方式 LCD數(shù)字、顯示保持
顯示分辨率 1μm：0-999μm 0.1μm：0-400μm 0.5μm：400-500μm 0.01mm：1.00-2.50mm
測量精度 均勻表面上 0 ～ 100 μm：±1 μm 或示值的 ±2% 101 μm ～ 2.50 mm：±2% 以內(nèi)
工作溫度 0～40℃（無凝結(jié)）
重量 約270克（含電池）
配件 標(biāo)準(zhǔn)厚板、測試調(diào)零板、干電池、收納盒、手帶繩、保修卡/用戶登記表、使用說明書
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